お持ちの金属顕微鏡に取付けるだけで、安価に3次元形状測定を実現する『非接触3D表面形状測定モジュール』【株式会社ウェル】

株式会社ウェル(所在地:東京都品川区東品川2-2-25、代表取締役:江田尚之)は、白色光とPZT(ピエゾ)アクチュエーターを使用した白色干渉法による非接触表面形状検査モジュールを販売しております。
http://well-jisso.jp/3D.aspx
すでにお客様にて保有の金属顕微鏡に取付けるだけで、安価に3次元形状測定を実現いたします。
□特徴
・非破壊測定
・垂直分解能(Z軸):0.1[nm]
・高ダイナミックレンジ:~5[mm]
・高速形状解析ソフトウェア
 
□主な用途例
・半導体ウェハバンプ3D検査(半田バンプ、Auバンプ)
・半導体ウェハパターン表面検査
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【本件に関するお問い合わせ先】
株式会社ウェル
実装ソリューション営業部
Tel :03(5715)3501
E‐mail :info@welljp.co.jp
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